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上海物光测量显微镜WG-15J
上海物光测量显微镜WG-15J
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物镜 |
目镜 |
显微镜 |
工作 距离 |
视场 直径 |
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放大倍数 |
焦距 |
放大倍数 |
焦距 |
放大倍数 |
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2.5×/0.08 |
43.40 |
10× |
25.00 |
25× |
58.84 |
5.6 |
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10×/0.25 |
17.13 |
100× |
7.81 |
1.6 |
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测量工作台读数装置主要规格
X轴遇到测量范围50nm
Y轴遇到测量范围13nm
测量器分度值：0.01nm
测量台转动范围不限：NO limit
测量台刻度盘分度范围：0°～360°
测量台刻度盘之分度值：1°
测量台刻度盘游标读数示值：6’
测量精度：
仪器示值误差：± （4+L/15）μ m
仪器示值误差：包括测量误差和系统误差
注：测量地点温度变化20℃ ±3℃，L--被测件长度
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